鯧뎅꿥ꆱ藥 2 곧
|
![](/icon/objclass/news_icon.gif) |
厚翼科技提供检测与修复结合的SRAM解决方案 (2018.06.04) 厚翼科技 (HOY Technologies)内嵌式测试(BIST ,Built-In Self-Test)的解决方案可以确保记忆体储存功能是正确无误的;而内嵌式修复 (BISR, Built-In Self-Repair) 的解决方案可帮助客户提升良率减少生产成本的浪费 |
![](/icon/objclass/article_icon.gif) |
记忆体测试与 ISO 26262的关联性 (2016.11.02) 自从ISO 26262于2011年底发布后,已迅速成为全球各大车厂全力推动的车用电子安全性标准;此安全标准定义了3.5吨以下乘用车中有关电子系统的功能安全规范... |
|
|