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Mentor Graphics最新Tessent Scan Pro实现测试资料量压缩效益 (2015.10.13)
Mentor Graphics公司(明导国际)推出新款Tessent Scan Pro 产品,该产品采用的技术可以显著减少使用Tessent TestKompress ATPG 压缩方案的测试资料量。由于测试资料量很大程度上决定了测试积体电路(IC)的成本和时间,因此Tessent ScanPro 产品可帮助晶片制造商以更快、更具成本效益的方式交付他们的产品 |
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＜CES＞NVIDIA宣布CES记者会提供网络现场直播 (2012.01.10)
NVIDIA日前宣布将于2012年1月9日在2012国际消费电子展（CES）举行记者会。记者会也将同步于网络直播。
此活动将于太平洋时间下午4点、美东时间下午8点（台湾时间1月10日上午8时）假美国拉斯韦加斯的Venetian饭店举行 |
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iPad帶領平板電腦產業走向泡沫？ (2010.07.14)
iPad帶領平板電腦產業走向泡沫？ |
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全球首架太空战机X-37B (2010.04.08)
美国空军将在美东时间4/19晚上10点，发射波音X-37B无人太空载具进入地球轨道飞行，这也可能是全球首架太空战机。X-37B机身长8.8公尺，翼展4.5公尺，高2.9公尺，重5吨，最高时速25倍音速，大小约航天飞机的1/4 |
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EMC宣布取得Data Domain绝对多数股权 (2009.07.22)
EMC公司宣布EMC已购得Data Domain的多数股权。一旦EMC完成Data Domain的收购程序（预计7月底），将以Data Domain的业务为基础建立一个新的产品部门，隶属于EMC储存事业部，专注于新一代磁盘备份、复原和归档解决方案的研发 |
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-Edt Text Editor edt_1.7 (2008.06.10)
Simple text editor emulates VAX VNS Edt. Uses numeric key-pad for
common editing functions. Easy to learn, efficient, enables rapid
editing. Multiple buffers. Handles large files. Light-weight. |
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-WoW Itemstats Extended Edition Itemstats Ext. Edt. 2.0.5 (2008.03.12)
Itemstats Extended Edition adds [item][/item] and [itemicon][/itemicon] Tags for your system.
Manuals available for EQDKP, wbb2, phpBB, vBulletin and PHPKit |
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-WoW Itemstats Extended Edition Itemstats Ext. Edt. 2.0.0 (2006.10.17)
Itemstats Extended Edition adds [item][/item] and [itemicon][/itemicon] Tags for your system.
Manuals available for EQDKP, wbb2, phpBB, vBulletin and PHPKit |
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TI与Altera连手举办网络研讨会 (2006.04.11)
德州仪器(TI)宣布将与Altera及EE Times合作举办一场主题为「提供您所需的低成本PCI Express x1解决方案」(Delivering Low-Cost PCI Express x1 Solutions for Your Needs)的网络研讨会，这场研讨会将于美国PDT/Noon EDT时间2006年4月11日上午九点开始广播，它将介绍x1低成本PCI Express的优点以及说明如何克服高速PCI Express系统发展的挑战 |
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-Eclipse Eiffel Development Tools (EDT) Version 0.1.0 (2005.07.22)
The Eclipe Eiffel Development Tools (EDT) are a set of plugins which eventually implement a full-fledged, highly integrated Eiffel development environment based on the Eclipse Platform. The EDT plugins contribute a number of |
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提高IC测试质量的设计策略 (2005.05.05)
奈米制程让IC测试质量面临许多新挑战，本文将介绍各种可用以提高测试质量的可测试设计策略；例如利用可准确产生频率周期之PLL来进行实速测试，以及全速式内存内建自我测试等 |
