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NI发布最新软体优化测试工作流程 (2022.03.09)
NI发布用於自动化测试系统的订阅版测试工作流程软体套件。该产品通过单一软体授权许可证拓展了工程师获取设计和自动化测试或测量系统所需的多种软体的途径。工程师们身处数位化转型浪潮的中心，他们需要以更快的速度制造出更好品质、更高性能的产品 |
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从设计到制造 模组化仪器高弹性优势完全发挥 (2020.11.11)
模组化仪控针对量测与自动化使用者，定义了一种坚固的运算平台。PXI模组化仪控系统可整合多种软体与硬体元件的优点。其大量I/O??槽与时脉/触发功能，将可满足使用者需求 |
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5G商转在即 NI以灵活系统架构因应企业多元测试需求 (2018.08.10)
随着万物互联时代来临，装置及感测器数量不断增加，为精准传输复杂讯息，自动化测试成物联装置至关重要的研发环节。以软体为中心的平台供应商国家仪器(NI)，协助业界加速自动化测试与自动化量测系统的开发进程和效能提升 |
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NI将半导体测试系统的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
国家仪器(NI)发表PXIe-4163高密度电源量测单元(SMU)，其DC通道密度为上一代NI PXI SMU的6倍，适合用来测试RF、MEMS与混合讯号，以及其他类比半导体元件。
NI全球销售与行销执行??总EricStarkloff表示：「5G、物联网与自动化汽车等高颠覆性技术的出现，迫使半导体产业必须持续推动技术发展，并采用更具效率的方式来进行半导体测试 |
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NI最新LabVIEW NXG强化功能，测试作业更智慧化 (2018.02.02)
国家仪器(NI)推出LabVIEW NXG，即新一代LabVIEW工程系统设计软体的最新版本。现在，工程师可以透过LabVIEW NXG进行更智慧化的测试：迅速设定仪器、依照装置规格来客制化测试，并在任何装置上，以任何网页浏览器轻松检视结果 |
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NI 技术提升 ADAS 与自动化汽车的安全、稳定性测试 (2017.11.14)
NI 国家仪器近日发表了车用雷达测试系统 (VRTS)，上从研发实验室到大量生产测试环境，下至个别雷达感测器到整合先进驾驶辅助系统 (ADAS)，工程师都能使用 VRTS 进行 76－81 GHz 的雷达技术测试 |
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NI 展示宽频 5G 波形产生/量测技术━适用於 5G 测试应用 (2017.07.25)
NI於夏威夷檀香山举行的2017年国际微波会议 (International Microwave Symposium，IMS)中，正式展示Pre-5G波形产生与量测技术。这场技术展示主要强调 Verizon 5G 技术论坛(5GTF)与3GPP提议之新无线电 (NR) 实体层，在讯号产生与波形分析的代表性地位 |
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NIWeek现场直击-完整软体平台 覆盖更广泛应用领域 (2017.05.25)
NIWeek现场直击-完整软体平台 覆盖更广泛应用领域
NIWeek现场直击-完整软体平台 覆盖更广泛应用领域
事实上，随着摩尔定律的发展，NI追求技术革新的脚步也从没停歇过 |
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应对全方位测试满足影音市场多元商机 (2017.02.13)
随着多媒体影音娱乐的高画质风潮方兴未艾，传输介面也已经全面革新，数位资料正迈入超高速传输时代。而测试厂商，也全力为这些高速数位传输介面的品质把关。 |
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NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构 |
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NI展示毫米波802.11ad 无线测试技术 (2016.10.21)
NI国家仪器近日发表全新 802.11ad (WiGig) 测试解决方案的技术预览。 NI展现毫米波测试领域的全新功能，并透过毫米波仪器的技术示范了802.11ad无线电的参数测试。
全新 802.11ad 测试解决方案所用的 NI 宽带毫米波收发器技术，同时也是汽车与无线基础架构研究人员用于制作雷达与 5G 系统原型的技术 |
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NI 强化TestStand Test Executive软体效能 (2016.10.18)
NI 国家仪器近日发表 TestStand 2016。这套领先业界的最新版测试管理软体能够帮助超过 10,000 名使用者提升产能，并确保新开发工程师能取得初步的成功。
面对产品品质、上市时间与成本等方面日益增加的压力，领导厂商不断要求测试部门扩大测试范围，借此透过较少的资源达成更高的产品稳定性 |
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NI将于Semicon Taiwan展出智能型开放式ATE自动化测试设备 (2016.09.07)
在充满智慧装置的物联网时代，多元且复杂化的半导体零组件应运而生，让半导体厂商在进行各项待测物量测时面临极大的挑战。 NI国家仪器于9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期间 |
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NI 发表高精度PXI电源量测单元 (2016.08.05)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI发表第二代向量讯号收发器 (2016.07.22)
NI国家仪器推出第二代向量讯号收发器 (VST)。 NI PXIe-5840模组提供 1 GHz 频宽的VST，可满足最严苛的RF设计与测试应用需求。
「2012年，NI透过LabVIEW的可程式化FPGA打造了首款VST |
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NI：因应物联网发展 PXI、CompactDAQ形成坚强量测组合 (2016.07.21)
近年来，在模组化量测领域，NI（国家仪器）一直都是指标厂商，而指标性的产品线，就是大家所熟知的PXI。它不仅由NI所提供，在模组化量测市场，NI同样也有其他的竞争对手 |
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NI推出强化版半导体测试管理软体 (2016.04.01)
NI 国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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NI 推出强化版半导体测试管理软体 (2016.03.31)
国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand 半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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多媒体进化 影音测试挑战升温 (2015.11.12)
随着数位化时代演变，影像传输逐渐由类比走向数位，
加上大尺寸电视的发展，带动高速数位影音介面的起飞。
面对这样的局面，多媒体测试也必须跟上市场的脚步才行 |
