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NI LabVIEW 2009将以新技术全力支持新兴应用 (2009.08.04)
NI美商国家仪器发表LabVIEW 2009，此为最新版的图形化系统设计平台，适用于测试、控制，与嵌入式系统的开发。LabVIEW 2009将利用多核心系统，以新的虚拟技术简化平行硬件架构的开发程序；同时更强化了编码器与IP功能，可进一步提升FPGA设计作业 |
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提供多功能高信道数有效分析混合讯号的单一示波器方案 (2009.08.04)
现在嵌入式电子产品设计过程是越来越复杂，从嵌入式芯片设计开始的微控制器和FPGA、到因应PCB空间缩小降低链接成本的串行总线通讯设计、以及数字模拟转换和电源管理等，都会产生各类复杂混合的串行和并列数字讯号，等待进一步分析和除错 |
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专访：Tektronix资深经销业务经理吴俊贤 (2009.08.04)
现在嵌入式电子产品设计过程是越来越复杂，从嵌入式芯片设计开始的微控制器和FPGA、到因应PCB空间缩小降低链接成本的串行总线通讯设计、以及数字模拟转换和电源管理等，都会产生各类复杂混合的串行和并列数字讯号，等待进一步分析和除错 |
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Bureau Veritas ADT获IECEE认可 (2009.08.03)
Bureau Veritas ADT(立德国际商品试验)已获得国际电工协会(IECEE)审核认可，成为可执行充电电池(BATT IEC 62133)之CB测试实验室(CBTL)，并自2009年7月22日起正式执行测试。资格已正式列入IECEE线 上认证数据库中，并可在IECEE的网站上查询到 |
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高速电路电源及讯号完整性分析技术新产品发表会-新竹场 (2009.07.30)
在下一代电路板设计您是否将面临引进新的技术或改变设计方式来达到设计目标？此次「高速电路电源及讯号完整性分析技术新产品发表会」将介绍电源分析技术应用及多种新技术的信号完整性分析应用，包括 DDR2、 DDR3、HDMI、 PCI Express...等技术 |
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Tektronix教育人员辅助教学资源套件现已供货 (2009.07.30)
Tektronix宣布推出完备的全新教育人员资源套件，这个套件使用实用的问题式实验室实验，教导学生基本电子测试与量测的基础原理。这个套件的设计，有助于协助学生充分准备，一出职场即可立即上手，并能够使用最新的测试与量测仪器 |
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安捷伦ENA网络分析仪新增6.5及14 GHz选项 (2009.07.29)
安捷伦科技（Agilent）宣布推出Agilent E5071C ENA网络分析仪的6.5和14 GHz选项。这些选项加上Agilent E5071C现有的4.5、8.5和20 GHz频率范围，可以让用户针对特定的应用来选择最合适的频率，进而大幅降低生产线的测试成本 |
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NI发表新款PXI数字仪器与高带宽机箱 (2009.07.28)
NI近日发表2组新款的32个信道PXI Express架构数字仪器，还有新款8槽式高带宽PXI Express 3U机箱，可用于高阶的自动化测试应用。
NI PXIe-6544/45为可选择电压的数字波形产生器/分析器，分别可支持最高100与200 MHz的频率，以简化测试应用 |
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安捷伦发表快速、坚固之整合式 RF综合分析仪 (2009.07.27)
安捷伦科技（Agilent）针对旗下的Agilent N9912A FieldFox RF综合分析仪，推出干扰分析仪选项，该仪器是整合程度相当高的RF手持式仪器，适用于无线网络的安装与维护（I&M）。该公司并首例为仪器提供新的频谱分析仪功能 |
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2009国际广播会议 R&S聚焦DVB-T2标准 (2009.07.27)
2009年的国际广播会议（International Broadcasting Convention,IBC）将于9月10-14日在阿姆斯特丹举行。罗德史瓦兹（Rohde & Schwarz,R&S）将聚焦于新的DVB-T2标准，并于第8馆D35摊陈列出最新型的DVB-T的发射机与量测设备 |
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R&S为SMF100A微波讯号产生器新增功能选项 (2009.07.24)
R&S SMF100A新的功能选项－R&S SMF-B32/R&S SMF-B34（输出功率强化）及R&S SMF-B22（相位噪声优化），现已正式推出。搭配最新推出之功能选项后，R&S SMF100A已呈现优化之输出功率（Output power）及单旁波带相位噪声（SSB）表现 |
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SEMI:六月北美半导体设备B/B值为0.77 (2009.07.22)
国际半导体设备材料产业协会(SEMI)，日前公布了最新Book-to-Bill订单出货报告， 报告中指出，2009年六月份北美半导体设备制造商三个月平均订单金额为3.234亿美元，B/B Ratio(Book-to-Bill Ratio, 订单出货比) 为0.77 |
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NI 针对自动化视觉检验，发表嵌入式视觉系统 (2009.07.22)
NI近日发表新款嵌入式视觉系统（Embedded vision system），可让制造工程师与系统整合商建立高速的实时机器视觉系统，适用于产品拣选、组件识别，与包装检验的应用。
NI EVS-1464RT嵌入式视觉系统为高效能的多核心控制器，可处理多组IEEE 1394与GigE Vision相机的影像 |
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Aeroflex与w2bi合作开发新LTE手机认证平台 (2009.07.21)
Aeroflex与w2bi宣布已签订一项协议，将整合双方的测试专业意见与技术，以共同开发针对LTE行动装置之网络认证平台。
Aeroflex 7100 LTE测试系统,整合了w2bi的Q-GENERIC自动测试解决方案，将可为网络营运业者、手机制造商和全球的测试实验室创造一个全面的LTE手机认证平台 |
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Tektronix与NI延长合作 共推创新产品计划 (2009.07.20)
Tektronix与美商国家仪器（National Instruments，NI）宣布，两家公司已推出共同创造新产品的计划，延长20多年的合作关系。这些新产品将为设计验证、制造测试、科学研究与嵌入式测试领域的工程师与科学家，提高生产力并降低成本 |
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SEMI：半导体逐步复苏 设备业2010年第一季回春 (2009.07.16)
国际半导体设备材料产业协会(SEMI)，日前在SEMICON West记者会上，发表年中半导体资本设备预测报告。报告中预测，2009年的半导体设备销售额将达到141.4亿美元，较2008年减少52%，但2010年将可望有47%的成长 |
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孕龙科技推出全新逻辑分析仪 (2009.07.16)
孕龙科技宣布即将于八月份推出全新LAP-B(702000+)产品。LAP-B系列产品具备多信道、高取样频率和高压缩率等多样特性，目前最新发行的LAP-B(702000+)更新增了折迭功能，使开发工程师更快速的进行分析多样的讯号 |
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惠瑞捷之内存测试系统新增冗余分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布为旗下V6000 WS测试系统新增内存冗余分析功能SmartRA。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求 |
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NI于2009 Q3新增多项免费实机课程 (2009.07.15)
美商国家仪器（National Instruments,NI）在2009 Q3推出一系列的免费进修课程，让工程师可以藉由这一系列的课程进修，增加职场的竞争能力。
在台北地区，NI新增「LabVIEW 多核心程序设计教学」，与「标准量测平台介绍与自动化测试系统的建立」两堂课 |
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Anritsu新ㄧ代基地台分析仪可量测4G技术 (2009.07.14)
Anritsu Company日前发表高效能手持基地台分析仪BTS Master MT8221B，其专门开发以支持新兴的4G标准及已部署的2G/3G网络。MT8221B的平台提供了可量测如LTE和WiMAX等技术的20MHz解调能力，及可外部解调近乎任何其他宽带讯号的30-MHz零跨距IF输出 |
