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開始時間﹕ |
五月二十一日(四) 08:45 |
結束時間﹕ |
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主办单位﹕ |
NI |
活動地點﹕ |
台北国际会议中心101 C室-台北市信义路五段1号 |
联 络 人 ﹕ |
倪小姐 |
联络电话﹕ |
02-2377-2222轉 5188或 5190 |
報名網頁﹕ |
ni.com/taiwan/seminar |
相关网址﹕ |
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过去30年以来,NI的工具让全世界数千家公司降低测试成本,并提升产品质量。相同的优点更实现于多种应用与测试之中,例如:Xbox 360游乐器游戏杆、LEXMARK打印机喷头、Lockheed Martin战斗机及BMW汽车引擎的电子等。经由系统模块化、软件定义的方式,即为控制测试成本的基础。透过软件定义的测试系统,用户可针对不断变化的技术随时更改软件,以因应新量测作业或遭淘汰仪器控制的需求。 今年PXI仪器应用论坛,将针对各区不同的应用,分别针对以下主题来做探讨:(1)如何利用多核心技术降低测试时间与成本;(2)PXI技术用于半导体和多媒体IC测试;(3)新一代PXI和PXI Express RF量测模块探讨;(4)高效能FPGA组件整合至测试与控制应用。 只要是半导体和混合式讯号IC测试相关工程师、无线通信研发人员、测试系统开发人员,或是自动化控制相关领域工程师,皆欢迎参加此次的活动。 美商国家仪器“ PXI仪器应用论坛”将与您一同探讨如何继续降低仪器成本,并在低迷的景气环境,为产品创造更高附加价值!
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