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2010先进半导体制程材料分析研讨会
 


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開始時間﹕ 六月九日(三) 13:00 結束時間﹕ 六月九日(三) 17:00
主办单位﹕ 宜特科技
活動地點﹕ 宜特科技-新竹市埔顶路19号
联 络 人 ﹕ 邱小姐 联络电话﹕ 03-578-2266#8927
報名網頁﹕
相关网址﹕ http://www.istgroup.com/chinese/2_news/02_seminars_detail.php?ID=65

为协助半导体产业改善先进制程材料所带来的失效问题,宜特科技特举办此研讨会,与客户分享在材料分析领域上的实战经验,包括对表面分析极为灵敏的Auger、能定点切中奈米级(22nm以上)区域的 Dual Beam FIB以及超高分辨率的TEM(穿透式电子显微镜),另外也从应用面切入,将材料分料领域扩展到LED 磊晶及量子井掺杂、太阳能材料以及半导体集成电路制程,期能在产品研发阶段提供客户材料分析专业意见,得以在制程技术问题上得到完整解决方案。

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