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HBM应用优势显着 高频半导体测试设备不可或缺 (2024.08.27)
HBM技术将在高效能运算和AI应用中发挥越来越重要的作用。 尽管HBM在性能上具有显着优势,但在设计和测试阶段也面临诸多挑战。 TSV技术是HBM实现高密度互连的关键,但也带来了测试的复杂性
未来机器手臂:轻薄短小、智能高效 (2022.11.22)
第四次工业革命如火如荼展开,加入了智慧化与精密化生产的特色,整体产业的设备也必须同步升级,才能赶上智慧化生产的脚步。其中,线性传动元件也成为了不可或缺的重要配角
爱德万再获自动化测试与最隹晶片制造设备大型供应商 (2022.05.25)
爱德万测试 (Advantest Corporation) 宣布再度於2022年TechInsights (原VLSIresearch) 客户满意度调查获得第一名的隹绩,也是连续三年在这项针对全球半导体公司所做的年度调查夺冠。 自从这项调查在34年前创立开始
可在量产中实现良率管理的STT-MRAM磁性测试 (2021.06.02)
由于STT-MRAM(自旋转移距-磁性随机存取记忆体)具有快速、非挥发性、耐用,低功耗和可扩展的优点,是目前正迅速获得关注的新记忆体技术之一。它是替代eFlash的强大候选者,尤其是对汽车、物联网和其他低功耗应用特别有吸引力
波士顿半导体测试分类机订单创新纪录 车用与封测市占成长 (2021.05.25)
半导体测试自动化和测试分类机公司波士顿半导体设备(BSE)今天宣布其测试分类机的订单创下纪录。该公司尚未交货订单包括现有客户和新客户,这些新客户转购BSE分类机以获取更高性能和更好的客户服务
爱德万测试推出高产能记忆体测试机 整合预烧及记忆体测试於单一系统 (2020.04.01)
半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)发表最新多功能、高产能H5620记忆体测试机,能针对DRAM和LPDDR(低功耗双存取同步动态随机存取记忆体)装置进行预烧及记忆体单元测试
TI推出叠接型DC/DC降压转换器 大幅提升高电流FPGA和处理器电源功率密度 (2020.03.10)
德州仪器(TI)近日推出了一款新型40-A SWIFT DC/DC降压转换器,可堆叠最多四个积体电路(IC)。TPS546D24A PMBus降压转换器可在85。C的环境温度下提供高达160A的输出电流,电流比市面上其他同类电源IC高四倍
意法半导体推出64通道高压开关IC 助医疗与工业影像系统提升性能 (2019.10.23)
半导体供应商意法半导体(STMicroelectronics,ST)64通道高压类比开关晶片的整合度达到前所未有之水准,其适用於先进的超音波系统、超声探头、压电驱动器、自动化测试设备、工业自动化和工业制程控制系统
高弹性高灵活 模组化仪器满足各种量测需求 (2019.10.21)
渐趋复杂的产品设计,使得测试系统必须变得更加灵活。同时设备的成本压力,也促使系统寿命必须更为延长。要满足所有这些需求,只有透过模组化架构方能办得到。
RF特性提升ATE测试难度 PXI架构提供更具弹性选择 (2019.09.10)
传统上,大部分的RF与混合式讯号IC的测试,都是在生产环境中透过自动化测试设备(ATE)来进行,或是在特性测试实验室中透过机架堆叠式箱型仪器而完成的。典型的机架堆叠式箱型仪器可提供高品质的实验室等级量测结果,但是缺点是容量有限,不仅无法处理大量零件,测试时间也比ATE来得慢
爱德万测试:5G与AI为测试设备带来新一波商机 (2019.09.06)
在矽晶片的发展中,每到一个新的时期,就会有不同的市场驱动力。从1990年代的PC,2000年的手机,到2010年的智慧手机,约以十年为间隔,持续推动着半导体产业的矽晶片发展节奏
Mentor与Teradyne推出ATE-Connect测试技术 大幅缩短晶片除错与测试上线时间 (2018.11.15)
Mentor今天宣布,在其Tessent SiliconInsight 产品中针对IC除错与测试上线(bring up)推出ATE-Connect?技术。 ATE-Connect技术开创了业界标准的介面,可免除与专有、测试机台特定软体以及可测试性设计(DFT)平台间的通讯障碍
具可配置数位位元滤波器的 32 位过采样 ADC (2017.10.31)
LTC2500-32 是针对自动化测试设备、控制环路、地震学和高精度资料获取等高频宽、精准型应用的一种新型和实现方法。 SAR 核心的类比性能是首屈一指的,线性度为保证的 2ppm 最大值
奥地利微电子新型时间-数位转换器实现高速、高精确度和低功耗 (2017.01.24)
奥地利微电子(ams AG)推出新型时间-数位转换器,该产品在速度和精确度提升的同时降低能耗。新型TDC-GPX2也具备标准低压差分信号(LVDS)、序列介面(SPI)和一个更小尺寸新型9mmx9mm的QFN64封装
NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构
NI:迈向更开放的智慧型半导体测试 (2016.09.09)
身为平台式系统供应商,NI(国家仪器)不断致力于协助工程师与科学家,解决当今全球最艰巨的工程挑战。而看准复杂且日新月异的智慧装置市场,正驱动着半导体设备商对多重测试的强劲需求
NI将于Semicon Taiwan展出智能型开放式ATE自动化测试设备 (2016.09.07)
在充满智慧装置的物联网时代,多元且复杂化的半导体零组件应运而生,让半导体厂商在进行各项待测物量测时面临极大的挑战。 NI国家仪器于9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期间
NI与Astronics携手开创航太与国防测试系统新局面 (2015.12.17)
NI 国家仪器与Astronics Corporation的全资子公司Astronics Test Systems, Inc.将携手打造PXI 架构的航太与国防产品。 Astronics 拥有测试系统整合的优势,再加上NI 在PXI 架构自动化测试系统领域的地位,预期可打造出适合自动化测试设备(ATE)应用的系列产品
NI与Astronics 携手开创航太与国防测试系统新局面 (2015.11.23)
NI 国家仪器与Astronics的全资子公司Astronics Test Systems将携手打造PXI 架构的航太与国防产品。 Astronics拥有测试系统整合的优势,再加上NI 在PXI 架构自动化测试系统领域的地位,预期可打造出适合自动化测试设备(ATE) 应用的系列产品
面对高功率密度应用Vicor用多元产品组合因应 (2015.08.18)
在全球电源半导体市场中,对于德仪、凌力尔特或是快捷半导体等业者名称,可能很多人相当熟悉,但是对于Vicor,或许就相对陌生了一点,该公司所锁定的市场偏重在高功率密度、DC/DC、AC/DC、高压直流HVDC等应用,并在去年于台湾设立了技术支援中心


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