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爱德万：PXI对ATE毫无威胁可言 (2014.09.04)
SEMICON TAIWAN 2014热闹开展，恰巧的是，ATE（自动测试设备）大厂爱德万测试（Advantest）也适逢成立60周年，随之而来的，是更为艰巨的挑战。
我们都知道，爱德万测试并购了惠瑞捷之后，使得ATE市场有了不一样的变化，两家产品线的互补，使得爱德万在ATE市场更具实质的影响力 |
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寻求成长动能 ATE业者跨足系统测试市场有谱？ (2013.10.03)
自ATE（自动化测试设备）大厂爱德万测试（Advantest）在先前并购惠瑞捷后，爱德万测试在全球ATE领域的领导地位更形确立，测试的解决方案也更加完整。
爱德万测试台湾区总经理吴庆桓谈到 |
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可携式产品锱铢必较 3D IC量测工夫再上层楼 (2011.09.07)
便携设备将成为引领电子产业向前迈进的新动力，智能型手机、平板计算机都是绝佳例证；而PC产业面临挑战，自也不遗余力追求薄型化与轻量化。晶圆量测厂商惠瑞捷成为Advantest旗下子公司后再度发表新产品，推出新产品以因应3D IC与SIP时代之量测需求 |
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惠瑞捷宣布收到爱德万的修订后并购提案 (2010.12.29)
惠瑞捷（Verigy）于日前宣布，已收到来自爱德万公司的修订后并购提案，以每股15美元的现金价格收购惠瑞捷的所有上市普通股。关于修订后的爱德万提案，惠瑞捷董事会此时并不作任何推荐，此外惠瑞捷预计将继续与爱德万就修订后的提案展开洽谈，包括与潜在交易相关的监管部门方面的事务 |
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惠瑞捷产品说明记者会暨媒体餐叙 (2010.07.21)
惠瑞捷将举行产品说明记者会暨媒体餐叙，惠瑞捷策略营销部副总裁Mark Allison 及惠瑞捷副总裁暨ASTS总经理魏津博士将亲临会场，分别介绍惠瑞捷全新高速DRAM测试解决方案与说明惠瑞捷V101多功能测试平台的崭新应用，并分享产业前景、趋势发展 |
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惠瑞捷针对其生产验证设备新增功能提升扩充性 (2010.07.08)
惠瑞捷（Verigy）在日前宣布，其经生产验证的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解决方案，进一步提升该平台的扩充性。该平台针对数字、混合信号，和无线通信集成电路的高性能针测产品，进行量产、多点针测 |
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创意电子已采用惠瑞捷SoC测试系统 (2010.02.10)
惠瑞捷于昨日（2/9）宣布，创意电子 (Global Unichip) 已采用惠瑞捷V101测试系统。V101为惠瑞捷新推出的100 MHz测试系统，拥有低成本与零占用空间等优势，可协助创意电子进行更大量的平行测试并提升产出量，其易于操作的特性也将使软件与测试程序的开发工作更具成本效益 |
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惠瑞捷之内存测试系统新增冗余分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布为旗下V6000 WS测试系统新增内存冗余分析功能SmartRA。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求 |
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惠瑞捷推半导体测试之全方位良率学习解决方案 (2009.06.25)
惠瑞捷公司 (Verigy)宣布推出全方位良率学习解决方案 (Yield Learning Solution)，该解决方案可在复杂系统单芯片晶粒 (SoC die) 上整合未切割芯片测试、实时撷取以及电性缺陷统计分析等功能 |
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惠瑞捷Flash及DRAM测试平台获年度产品创新奖 (2009.05.24)
惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000测试系统荣获Frost & Sullivan 2009年度产品创新奖。V6000系统于2008年底推出，可在同一平台测试闪存与DRAM内存，大幅降低测试成本。多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等 |
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惠瑞捷荣获福雷电子2008年度最佳供货商大奖 (2009.02.06)
半导体测试商惠瑞捷(Verigy)周三（2/4）宣布，获颁全球半导体测试服务供货商福雷电子(ASE Test)的2008年度最佳供货商奖捷。该公司根据质量、工程技术与服务、交货及成本等四项衡量标准，评比供货商的排名，而惠瑞捷获得极高的分数，因此获得此一殊荣 |
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华邦电子选中惠瑞捷测试闪存晶圆 (2008.12.17)
惠瑞捷(Verigy) 宣布，闪存供货商华邦电子 (Winbond) 已采购多套Verigy V5400闪存测试系统，供台中厂使用，以测试SpiFlash序列式闪存的晶圆。这些内存采用序列外围接口 (SPI)，广泛使用于PC、移动电话和其它行动装置中 |
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惠瑞捷推出V6000闪存及DRAM测试系统 (2008.11.28)
惠瑞捷(Verigy) 宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备 (ATE) 机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等 |
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展讯通信采用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案 (2008.07.22)
半导体测试厂商惠瑞捷(Verigy) 宣布，中国无线基频芯片组供货商展讯通信 (Spreadtrum Communications) 选用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案，做为中国苏州组件厂的量产测试系统 |
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惠瑞捷蝉联VLSI Research十大最佳测试设备奖 (2008.07.22)
半导体测试厂商惠瑞捷(Verigy) 在VLSI Research市场研究公司2008年的客户满意度调查中，荣获十大最佳测试设备奖。惠瑞捷在「产品性能」及「测试结果的质量」两大类获得最高的评价，惠瑞捷旗下的Inovys则在13个评比类别中，有7个获得最高分数，名列第一 |
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惠瑞捷推出Inovys半导体芯片除错解决方案 (2008.06.25)
有鉴于市场对更高效率之除错方法的需求不断增加，半导体测试厂商惠瑞捷(Verigy) 特别推出Inovys半导体除错解决方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系统单芯片 (SoC) 组件的量产时间 |
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福雷电子采用惠瑞捷V93000射频测试系统 (2008.03.06)
惠瑞捷(Verigy)宣布，半导体测试服务供货商之一福雷电子(ASE Test)已采购Verigy Port Scale射频(RF)测试解决方案，测试客户的高整合度无线通信组件。福雷电子专精于为全球的整合组件制造厂(IDM)及IC设计公司，提供各种测试服务 |
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惠瑞捷年终媒体餐叙 (2007.12.05)
精于半导体测试的惠瑞捷公司将举办年终媒体餐叙。会中不仅展现惠瑞捷FY07年第四季的杰出财报表现，并将介绍惠瑞捷供应炼管理。这次的活动备有葡萄酒赏析，让您亲身体验勃根地葡萄酒的奥妙之处 |
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Verigy射频测试解决方案获冲电气工业采用 (2007.12.03)
惠瑞捷（Verigy）宣布，日本冲电气工业（Oki Electric Industry）已采购Verigy Port Scale射频（RF）解决方案，测试高整合度无线通信组件。冲电气工业株式会社（以下简称冲电气）的组件广泛使用在各种消费性电子产品中，包括机顶盒（Set-top Box）、移动电话、PDA、以及其它无线通信产品 |
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惠瑞捷成立周年媒体餐叙 (2007.07.03)
专精于半导体测试的惠瑞捷公司在成立一周年之际，将首度在台与媒体朋友见面。会中除了介绍三项将在七月中SEMICON West登场的新产品之外，并将分享惠瑞捷一年来成功的营运模式 |
