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CTIMES / 测试与量测
科技
典故
从演化到多元整合──浅介Bus规格标准的变迁

一个想要满足于不同市场需求的通用型Bus标准界面,能否在不断升级传输速度及加大带宽之外,达到速度、容量、质量等多元整合、提升效能为一体的愿望?
挑战行动装置高整合度电源系统设计 (2003.10.05)
为迎合电子产品体积日益轻薄短小的趋势,业者无不积极研发将内部零组件整合的技术,尤其是移动电话等产品的电源供应设计亦遵循此一趋势,朝向更高阶的芯片整合度发展
NI推出新版高效能数据撷取软件 (2003.09.16)
NI(National Instruments)于日前所举行的NI Week中表示,该公司将推出『NI-DAQ 7』-新一代工业数据撷取驱动程序库。工程师只要拥有NI-DAQ 7及LabVIEW 7 Express便可以相较前一版本10至1000倍速度,且可同步使用操作简便之DAQ小帮手(DAQ Assistant)来量测及自动编写程序
高速数字通讯系统中的抖动分析 (2003.09.05)
抖动可视为一种变动行为,这并与事件发生的时间相关,亦即在特定的时间预测所发生的事件。是数字通讯系统中眼图的一个重要的参数,本文将介绍抖动相关的定义及基本的量测概念
研华推出前端出线迷你工业级计算机 (2003.08.28)
研华(Adventech)日前推出前端出线迷你工业级计算机─ATM-4000系列。研华表示,ATM-4023是专为量测市场所量身订作的产品,前端I/O出线设计,可广泛应用于量测市场之PXI、VXI及 Compact PCI客户
TI推出电池管理组件新芯片组 (2003.08.26)
德州仪器 (TI) 宣布推出包含三颗功能先进的电池管理组件新芯片组,可支持由两颗、三颗或四颗电池串联而成的电池组,应用对象包括可携式医疗装置、笔记本电脑、测试与量测仪器以及工业设备
建构完整软硬件环境 南港SoC设计园区正式启动 (2003.08.20)
将台湾发展为世界级的SoC(System on a Chip;系统单芯片)中心,已经成为我国政府与IC产业界共同的目标,为达成此一愿景,目前我国除了有针对半导体产业进行升级辅导的「SoC国家硅导计划」
解析CMOS-MEMS技术发展与应用现况(下) (2003.08.05)
所谓CMOS-MEMS(CMOS-Compatible MEMS)是将半导体标准CMOS制程与微机电充分整合而成的技术,本文接续141期,在针对CMOS-MEMS技术的演进历程、应用现况做了概要介绍之后,将列举几个CMOS-MEMS的设计实务案例,为读者更详尽剖析目前CMOS-MEMS的技术趋势,并指出相关产业未来的发展方向与潜力所在
高速数位通讯系统眼图原理简介 (2003.08.05)
眼图是一般在时域分析中常用的技术,它广泛的应用在电脑及数位通讯及光纤通讯系统的测试分析中,其结果对信号的完整性分析,具有相当直观且简便的方法,本文将解释眼图形成的过程,并对衍生出的相关量测参数做一概念性的介绍
PCI Express测试技术--主机板厂商抢攻市场关键武器 (2003.08.05)
根据台​​湾安捷伦科技(Agilent)电子仪器事业群市场经理巫介庭表示,从目前看来,Intel长期以来和PC产业的渊源及影响力,要获得支持,只是时间早晚的问题而已;但在伺服器和通讯产业方面,则尚待后续的努力,值得观察
建构完整软硬体环境 南港IC设计园区正式启动 (2003.08.05)
将台湾发展为世界级的SoC(System on a Chip;系统单晶片)中心,已经成为我国政府与IC产业界共同的目标,为达成此一愿景,目前我国除了有针对半导体产业进行升级辅导的「 SoC国家矽导计画」
「PC-Based数据撷取与控制」训练课程 (2003.08.01)
本课程将介绍如何使用研华Plug-in DA&C Card产品,将真实世界的信号与计算机链接,以完成精准的量测分析。包括硬件联机、驱动软件的安装及测试,介绍相关的范例及文件
TI推出业界速度最快的18位模拟数字转换器 (2003.07.18)
德州仪器 (TI) 宣布推出业界速度最快的18位模拟数字转换器,进一步加强TI领先业界的Δ-Σ数据转换器产品阵容。ADS1625来自TI Burr-Brown产品线,拥有杰出的高速效能,数据速率高达1.25 MSPS,最适合要求严格的量测应用,包括科学仪表、自动化测试设备、数据撷取和医疗影像
偏极化及失真量测原理及实务 (2003.07.05)
高速通讯系统若以光纤做为媒介,在传输速度在2.5Gbps以上什至更高,传输距离为公里尺度时,就可能造成讯号失真,延迟,偏极化等情形。本文将讨论这些了解光学极化特性,造成误差的原因及相关的量测方法,文中会先介绍色散,极化的原理,其次是对应的量测技术及范例
光纤被动元件之极化相依损耗量测 (2003.07.05)
目前有两种普遍采用的方法可以量测PDL:极化扫描法Polarization Scanning Technique以及四态法(four-state method通常也称为Mueller法)。如果需要量测多个波长的PDL,Mueller法比较快
TI推出16位元250 kSPS的SAR类比数位转换器 (2003.07.01)
德州仪器(TI) 宣布推出16位元250 kSPS的SAR类比数位转换器,提供四组真正的双极输入通道以及±2.5 V输入范围。这颗资料转换器来自TI的Burr-Brown产品线,最适合资料撷取、测试与量测、工业程序控制、医疗仪表和实验室设备
锁相回路信号合成器测试要点 (2003.06.05)
在无线通信设备中,压控震荡器是一个关键零组件,搭配锁相回路,成为信号合成器,用以产生不同频率的信号。本文将描述压控震荡器及锁相回路特性参数的意义及测试方法,并说明回路滤波器的设计会如何影响信号合成器的工作
缩小ESR量测误差之要点 (2003.05.05)
现今许多电容和电感都具有低ESR值的特性,在量测时需要特别注意修正许多误差的来源。不同频率可以使用不同的方法来量测ESR,低频的量测可使用自动平衡电桥及共振的技术;而使用空腔(cavity)的共振技术、网路分析仪的反射测试器以及专门的阻抗量测设备采用的RF-IV技术,则适合用于高频的量测
高频探针附件之使用 (2003.05.05)
高频高频探针头连接线路如果不当容易产生不可预测的干扰信号,所以附件的正确使用是每一为工程师必备的常识,也许每个厂商的Probe形状不太相同,但是附件的正确使用原理是相同的,本文针对探针附件的使用方法加以介绍,让使用者得到正确的使用观念
以测试量测技术优势安捷伦进入ASIC市场 (2003.05.02)
安捷伦近日表示将以其晶片设计能力,锁定几家大拥有在运算、储存和网路方面的ASIC市场之OEM厂,以投入进入ASIC市场。个人系统业务部ASIC产品部副总裁暨总经理James Stewart表示
思达成立国内首座半导体参数量测实验室 (2003.04.29)
半导体测试设备业者思达科技,日前耗资5000万元成立的思达实验室已正式在新竹开幕,该实验室为国内首座专业半导体参数量测实验室,未来除将提供业界测试环境与服务,思达亦与工研院及投资思达的安捷伦科技签订合作备忘录,提供工研院育成中心进驻厂商免费服务

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