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爱德万测试V93000 SoC测试平台达25周年里程碑 (2024.08.21)
爱德万测试 (Advantest Corporation) 迎来旗舰产品V93000系统单晶片 (SoC) 测试平台25周年厌。V93000发展单一可扩充平台策略，采用每支接脚都有一个测试处理器 (Test Processor-Per-Pin) 的架构，至今已历经超过4代 |
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爱德万测试领域延伸至新兴市场开发 (2016.09.07)
半导体自动测试设备（ATE）供应商爱德万测试(Advantest)近日推出新一代逻辑及记忆体测试机台。爱德万测试于1954年在东京成立，在1990年成立台湾分公司，于2011年完成收购惠瑞捷(Verigy)加以强化产品组合与技术优势，并于2012年12月启用湖口新厂 |
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量测市场策略观察 各有各的好 (2014.10.30)
(刊頭)
（Source：blog.presentationload.com）
引言
市场的快速变动，迫使量测业者必须作出反应，
以维持在市场的竞争实力，基于每家公司的背景不同，
所采取的策略也有所差异，但可以确定的是，他们各自拥有一片天空 |
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量测市场策略 各有各的好 (2014.09.10)
今年对于NI（美国国家仪器）来说，无非是变化相当大的一年，从基础型的箱型量测仪器，或是先前所推出的STS（半导体测试系统），都可说是NI在产品策略上极具里程碑的重要进展 |
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爱德万：PXI对ATE毫无威胁可言 (2014.09.04)
SEMICON TAIWAN 2014热闹开展，恰巧的是，ATE（自动测试设备）大厂爱德万测试（Advantest）也适逢成立60周年，随之而来的，是更为艰巨的挑战。
我们都知道，爱德万测试并购了惠瑞捷之后，使得ATE市场有了不一样的变化，两家产品线的互补，使得爱德万在ATE市场更具实质的影响力 |
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寻求成长动能 ATE业者跨足系统测试市场有谱？ (2013.10.03)
自ATE（自动化测试设备）大厂爱德万测试（Advantest）在先前并购惠瑞捷后，爱德万测试在全球ATE领域的领导地位更形确立，测试的解决方案也更加完整。
爱德万测试台湾区总经理吴庆桓谈到 |
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爱德万完成收购惠瑞捷 摩拳擦掌打天下 (2012.06.14)
自动化测试设备(ATE)龙头爱德万在完成收购惠瑞捷(Verigy)的作业后，正全力展开新一波市场攻势，期凭借更完整的产品组合与技术优势，目标在2014年拿下半导体试机台与分类机(Handler)市场过半的占有率，以彰显爱德万与惠瑞捷联姻的综效 |
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可携式产品锱铢必较 3D IC量测工夫再上层楼 (2011.09.07)
便携设备将成为引领电子产业向前迈进的新动力，智能型手机、平板计算机都是绝佳例证；而PC产业面临挑战，自也不遗余力追求薄型化与轻量化。晶圆量测厂商惠瑞捷成为Advantest旗下子公司后再度发表新产品，推出新产品以因应3D IC与SIP时代之量测需求 |
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惠瑞捷宣布收到爱德万的修订后并购提案 (2010.12.29)
惠瑞捷（Verigy）于日前宣布，已收到来自爱德万公司的修订后并购提案，以每股15美元的现金价格收购惠瑞捷的所有上市普通股。关于修订后的爱德万提案，惠瑞捷董事会此时并不作任何推荐，此外惠瑞捷预计将继续与爱德万就修订后的提案展开洽谈，包括与潜在交易相关的监管部门方面的事务 |
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SoC和内存测试快狠准 惠瑞捷要捷足先登 (2010.07.21)
目前在芯片制造测试设备领域，主要供应大厂之间的竞争非常激烈，特别是在组件整合制造厂（IDM）、无晶圆IC设计公司（Fabless）、晶圆代工厂（Foundry）和委外组装测试/封测代工（OSAT） |
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惠瑞捷产品说明记者会暨媒体餐叙 (2010.07.21)
惠瑞捷将举行产品说明记者会暨媒体餐叙，惠瑞捷策略营销部副总裁Mark Allison 及惠瑞捷副总裁暨ASTS总经理魏津博士将亲临会场，分别介绍惠瑞捷全新高速DRAM测试解决方案与说明惠瑞捷V101多功能测试平台的崭新应用，并分享产业前景、趋势发展 |
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惠瑞捷针对其生产验证设备新增功能提升扩充性 (2010.07.08)
惠瑞捷（Verigy）在日前宣布，其经生产验证的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解决方案，进一步提升该平台的扩充性。该平台针对数字、混合信号，和无线通信集成电路的高性能针测产品，进行量产、多点针测 |
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创意电子已采用惠瑞捷SoC测试系统 (2010.02.10)
惠瑞捷于昨日（2/9）宣布，创意电子 (Global Unichip) 已采用惠瑞捷V101测试系统。V101为惠瑞捷新推出的100 MHz测试系统，拥有低成本与零占用空间等优势，可协助创意电子进行更大量的平行测试并提升产出量，其易于操作的特性也将使软件与测试程序的开发工作更具成本效益 |
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并Touchdown 惠瑞捷探针卡技术如虎添翼 (2010.01.25)
半导体测试设备与解决方案大厂惠瑞捷（Verigy）接橥今年四大发展目标，除了计划提升既有测试机台的影响力外，惠瑞捷也藉由并购Touchdown取得半导体探针卡（probe card）技术，同时惠瑞捷并计划在18个月内把RF测试的市占率提升到35％ |
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提供MCU测试系统完整因应客户各阶芯片生产策略 (2009.08.21)
MCU应用涵盖于DVD、机顶盒、数字相机和各类数字消费电子产品。由于低价格、效能提升、辅以应用领域不断开展更加广泛地支撑，目前低阶MCU产品依旧主导全球MCU微控制器应用市场格局 |
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专访:惠瑞捷台湾总经理陈瑞铭和ASTS总经理魏津 (2009.08.21)
MCU应用涵盖于DVD、机顶盒、数字相机和各类数字消费电子产品。由于低价格、效能提升、辅以应用领域不断开展更加广泛地支撑，目前低阶MCU产品依旧主导全球MCU微控制器应用市场格局 |
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惠瑞捷之内存测试系统新增冗余分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布为旗下V6000 WS测试系统新增内存冗余分析功能SmartRA。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求 |
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惠瑞捷推半导体测试之全方位良率学习解决方案 (2009.06.25)
惠瑞捷公司 (Verigy)宣布推出全方位良率学习解决方案 (Yield Learning Solution)，该解决方案可在复杂系统单芯片晶粒 (SoC die) 上整合未切割芯片测试、实时撷取以及电性缺陷统计分析等功能 |
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惠瑞捷Flash及DRAM测试平台获年度产品创新奖 (2009.05.24)
惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000测试系统荣获Frost & Sullivan 2009年度产品创新奖。V6000系统于2008年底推出，可在同一平台测试闪存与DRAM内存，大幅降低测试成本。多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等 |
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重新诠释内存测试定义 (2009.04.03)
固态硬盘的应用，也会带动闪存技术和测试的创新发展，包括更精密复杂的冗余分析和错误修正码计算方法、通讯协议或坏轨处理机制，以及克服闪存弱点的功能。测试用于固态硬盘的闪存时 |
