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弹性可扩充测试方法 将成为左右OTA测试成败关键 (2020.01.06)
新一代5G主动式天线阵列装置现在备有主动式波束赋形电子，可提供多种非线性RF元件，例如数位控制PA、LNA、相位移转器与混合器。新的设计会以单一封装整合多通道设定 |
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实践投资亚太承诺 NI结盟蔚华科技打造半导体量测新纪元 (2019.09.11)
国家仪器（NI）联手蔚华科技举办双方结盟记者会，由NI国家仪器台湾区总经理林沛彦与蔚华科技总经理高瀚宇共同出席，说明双方今年5月的重大结盟。未来NI将持续借助蔚华完善的经销服务体系和应用工程技术，为大中华与台湾客户提供客制化解决方案与即时的自动化量测服务，实践NI投资大中华区市场的承诺 |
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NI、Tokyo Electron、FormFactor与Reid-Ashman於 NIWeek 2019共同展示5G mmWave半导体晶圆探针测试解决方案 (2019.05.22)
NI今日发表及展示与Tokyo Electron、FormFactor与Reid-Ashman共同开发的5G mmWave晶圆探针测试解决方案。
现场展示的解决方案可因应5G mmWave晶圆探针测试的各项技术挑战，协助半导体制造商降低5G mmWave IC的风险、成本，并加快上市时间 |
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5G商转在即 NI以灵活系统架构因应企业多元测试需求 (2018.08.10)
随着万物互联时代来临，装置及感测器数量不断增加，为精准传输复杂讯息，自动化测试成物联装置至关重要的研发环节。以软体为中心的平台供应商国家仪器(NI)，协助业界加速自动化测试与自动化量测系统的开发进程和效能提升 |
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NI将半导体测试系统的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
国家仪器(NI)发表PXIe-4163高密度电源量测单元(SMU)，其DC通道密度为上一代NI PXI SMU的6倍，适合用来测试RF、MEMS与混合讯号，以及其他类比半导体元件。
NI全球销售与行销执行??总EricStarkloff表示：「5G、物联网与自动化汽车等高颠覆性技术的出现，迫使半导体产业必须持续推动技术发展，并采用更具效率的方式来进行半导体测试 |
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NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料（包括碳化矽（SiC） 和氮化镓（GaN）） 搭配使用而进行最佳化处理，可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试 |
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NI：迈向更开放的智慧型半导体测试 (2016.09.09)
身为平台式系统供应商，NI（国家仪器）不断致力于协助工程师与科学家，解决当今全球最艰巨的工程挑战。而看准复杂且日新月异的智慧装置市场，正驱动着半导体设备商对多重测试的强劲需求 |
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NI将于Semicon Taiwan展出智能型开放式ATE自动化测试设备 (2016.09.07)
在充满智慧装置的物联网时代，多元且复杂化的半导体零组件应运而生，让半导体厂商在进行各项待测物量测时面临极大的挑战。 NI国家仪器于9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期间 |
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浅谈NI模组化量测策略 (2016.08.22)
模组化量测之所以能成为量测市场的显学之一，最大的功臣，应该属于NI，而随着该领域的竞争日益激烈，NI理当也要祭出对应的竞争策略才是。 |
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NI推出强化版半导体测试管理软体 (2016.04.01)
NI 国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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NI 推出强化版半导体测试管理软体 (2016.03.31)
国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand 半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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NI透过无线测试系统降低无线生产测试成本 (2015.08.05)
NI国家仪器推出无线测试系统（WTS），一款可大幅降低大量无线制造测试成本的解决方案。尽管无线测试的复杂度与日俱增，有了这款具有最佳量测速度与平行测试功能的系统，企业即可有效降低测试成本，将生产效率提升好几倍 |
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安立知完成GCT半导体LTE-Advanced单芯片4X4 MIMO测试 (2015.05.14)
安立知（Anritsu）MD8430A讯令测试仪与Rapid Test Designer（RTD）软件，成功为GCT半导体公（GCT Semiconductor）完成其4G LTE-Advanced芯片（GDM7243Q）测试。
GCT半导体是先进4G行动半导体解决方案设计供货商，提供搭载支持LTE 4X4 MIMO载波聚合（CA）技术的先进FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7单芯片解决方案 |
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量测市场策略观察 各有各的好 (2014.10.30)
(刊頭)
（Source：blog.presentationload.com）
引言
市场的快速变动，迫使量测业者必须作出反应，
以维持在市场的竞争实力，基于每家公司的背景不同，
所采取的策略也有所差异，但可以确定的是，他们各自拥有一片天空 |
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量测市场策略 各有各的好 (2014.09.10)
今年对于NI（美国国家仪器）来说，无非是变化相当大的一年，从基础型的箱型量测仪器，或是先前所推出的STS（半导体测试系统），都可说是NI在产品策略上极具里程碑的重要进展 |
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NI：PXI打造最低成本半导体测试系统 (2014.09.04)
在摩尔定律的发展极限之下，产生更多装置链接与数据分析的需求。也由于物联网与智能手机的发展，使得模拟与RF讯号更显得重要。未来的讯号，将不再以纯模拟讯号为主，而是更为复杂的模拟与RF混合讯号，这使得传统ATE（半导体自动化测试设备）系统出现了瓶颈 |
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NI 半导体测试系统，开启 ATE 测试新未来 (2014.09.01)
美商国家仪器 (National Instruments, NI) 将于 9 月 3 日至 9 月 5 日于 「2014 SEMICON Taiwan 国际半导体展」 发表最新半导体测试仪，欢迎前往 NI 摊位共同探究、了解 NI 最新半导体测试系统 |
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NI 透过 PXI 架构的测试系统，降低半导体 ATE 的成本 (2014.08.04)
美商国家仪器提供了最佳的解决方案，协助工程师和科学家克服世界上最艰巨的工程挑战，并于今天推出 NI 半导体测试系统 (Semiconductor Test System，简称 STS) 系列。基于 PXI 架构的自动化测试系统，针对半导体生产测试环境的 PXI 模块，有助于降低 RF 和混合式讯号装置的测试成本 |
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PXI TAC 2013 – 多元应用气魄登场 (2013.05.23)
迈入第十届的 PXI TAC，每年总在众所期待之下，展开一连串的宣传。今年延续去年 RF 元年的气势，PXI TAC 特别规画 RF 展览馆，加上一整天的 RF 专题演讲，让所有 RF 领域的工程师们，在一整天的时间内，能充分了解 RF 应用在 PXI 架构下的优势 |
